串列式試塊CL-I CL-II CL-III
- 標(biāo)準(zhǔn): GB/T 11345-2013
串列式試塊CL-I、CL-II、CL-III是用于超聲檢測的重要工具,通常遵循GB/T 11345-2013等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。以下是它們的相關(guān)介紹:
CL-I:厚度T為30mm,適用于相對較薄工件的檢測,在檢測時(shí)可模擬較薄焊縫或結(jié)構(gòu)中的超聲波傳播和反射情況,為調(diào)整檢測參數(shù)和評估檢測結(jié)果提供參考。
CL-II:厚度T為80mm,適用于中等厚度工件的超聲檢測,對于一些厚度適中的焊縫、板材等結(jié)構(gòu)的檢測,CL-II試塊能夠提供更接近實(shí)際情況的檢測模擬,幫助檢測人員確定合適的檢測方法和參數(shù)。
CL-III:厚度T為120mm,主要用于較厚工件的超聲檢測,針對厚板、大尺寸鍛件等工件的檢測需求,CL-III試塊可以幫助檢測人員校準(zhǔn)檢測設(shè)備,確保在檢測厚工件時(shí)能夠準(zhǔn)確地識別和定位缺陷。