JIS-STB-A1 （同IIW試塊） 日本標(biāo)準(zhǔn)試塊
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同IIW
IW試塊（V-1試塊）也稱荷蘭試塊。是由國(guó)際焊接學(xué)會(huì)（IIW）通過，國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）推薦使用的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊。形狀與尺寸如圖1-1所示：
使用要點(diǎn)：
（1）利用試塊厚25mm可測(cè)定探傷儀的動(dòng)態(tài)范圍、水平線性及調(diào)整縱波探測(cè)范圍；
（2） 利用φ50圓弧和φ1.5通孔測(cè)定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量;還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測(cè)定儀器與探頭組合后的穿透能力；
（3） 利用R100mm圓弧面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū)，并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn)；
（4）利用測(cè)距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測(cè)定直探頭的縱向分辨力；
（5）利用試塊的直角棱邊測(cè)定斜探頭聲束偏斜角。
