掃查面盲區(qū)高度測定試塊是用于測定超聲檢測中初始掃查面盲區(qū)高度的試塊，在NB/T 47013.10-2015《承壓設備無損檢測 第10部分：衍射時差法超聲檢測》中有相關規(guī)定。以下是對它的具體介紹：

作用：為制定檢測工藝時確定掃查面盲區(qū)提供準確的數(shù)據(jù)支撐。由于TOFD檢測技術受信號脈沖寬度的限制，近表面缺陷的端點衍射波與直通波發(fā)生重疊，形成掃查面盲區(qū)，導致缺陷定位困難，而該試塊可幫助確定盲區(qū)范圍，以采取有效措施解決盲區(qū)內缺陷漏檢的問題。

設計特點：試塊上有距離掃查面不同深度、不同長度的8個Φ2mm橫孔，對加工工藝要求較高。此外，還有新型TOFD掃查面盲區(qū)對比試塊，采用深度連續(xù)變化的矩形槽，所用材料需經過MT（磁粉檢測）、UT（超聲檢測）、PAUT（相控陣超聲檢測）等方法嚴格檢測，聲束通過區(qū)不得有大于等于Φ2mm的平底孔當量的缺陷存在。該新型試塊采用電火花數(shù)控線切割機床加工而成，加工工藝簡單，成本較低，數(shù)控加工精度可控，有條件時可在試塊上表面刻上長度，并計算出對應長度位置處盲區(qū)的高度。

使用方法：使用時，將超聲檢測設備的探頭放置在試塊的掃查面上，通過檢測試塊上不同深度的橫孔或矩形槽所產生的超聲信號，來確定超聲檢測系統(tǒng)在當前檢測參數(shù)下的掃查面盲區(qū)高度。例如，對于新型試塊，可利用三角關系計算人工缺陷至試塊表面的高度和該人工缺陷垂直高度的大小，從而驗證掃查面盲區(qū)真實準確的數(shù)據(jù)，而且能夠驗證任何檢測條件下實際盲區(qū)的大小。