CSK-IA試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，是在IIW試塊的基礎(chǔ)上改進(jìn)而來的。其相關(guān)信息如下：

• 材料：通常采用45號鋼，毛坯為鍛打件，需經(jīng)正火處理。材料的主要化學(xué)成分應(yīng)符合GB699的規(guī)定，經(jīng)正火處理后晶粒度應(yīng)達(dá)到7級以上。使用5MHZ直探頭進(jìn)行接觸法超聲波探傷時，不得出現(xiàn)大于對比試塊DB-PZ2-2平底孔回波幅度1/4的缺陷回波。

• 用途：

• 測定探頭參數(shù)：利用R50mm和R100mm弧測定聲速、探頭的入射點(diǎn)、前沿及探頭延遲；采用85mm、91mm、100mm三個不同深度的臺階底面測定直探頭的分辨力；利用40mm、44mm、50mm三個階梯孔測定斜探頭的分辨力；用50mm圓孔和1.5mm橫孔測試斜探頭K值；用50mm圓孔測試直探頭的盲區(qū)。

• 校驗(yàn)探傷儀性能：利用25mm厚度測定探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍；利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度；利用R50mm和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度；利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況。

水平線性又稱時基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:

(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示

(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準(zhǔn) 2.0，B5 對準(zhǔn) 10.0，如圖 b 所示

(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。

(4)計算水平誤差:公式

式中，amax——a2，a3，a4 中最大者 b——示波屏水平滿刻度值

在利用縱波探傷時，可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描 速度，此過程我往往和檢驗(yàn)時基線性同步進(jìn)行。當(dāng)探測范圍在 250mm 以 內(nèi)時，可將探頭置于 25mm 厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四， 十次底部回?fù)芪挥诳潭仁瑒t刻度十就代表實(shí)際探測聲程為 250mm。當(dāng)探測聲程范圍大于 250mm 時，可將探頭置于如圖的 B 或 C 處，使各次底 波位于相應(yīng)的刻度處，此時起始零點(diǎn)亦同時得到修正。

由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對準(zhǔn) 91 底面，是 B1、B2 分別對準(zhǔn) 50、100，然后換上橫波探頭并對準(zhǔn) R100 圓弧面，找到最高回波，并調(diào)至 100 即可。

  (1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭， 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個反射回波 A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。

(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定，直探頭遠(yuǎn)場分辨力大于等于 20dB。

(1)探頭置于如圖所示位置，對準(zhǔn) 50mm、44mm、40mm 階梯孔， 使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。

(2)平行移動探頭并調(diào)節(jié)儀器，使 50mm、44mm 回波等高，如圖所示， 其波峰和波谷分別為 h1、h2，其分辨力為

X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中規(guī)定，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力大于等于 12 分貝。

將探頭置于圖示位置，向 R100mm 的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動探頭， 直到 R100mm 圓弧面反射波達(dá)到最高點(diǎn)，此時與 CSK-1A 試塊側(cè)面標(biāo) 線中心點(diǎn)“0”相對應(yīng)的探頭契塊那一點(diǎn)即為探頭入射點(diǎn)。

根據(jù)探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進(jìn)行測量，如圖所示。波形圖同于入射點(diǎn)波形圖。

    測量時，探頭應(yīng)放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行，前后移動探頭， 找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的最高反射波。此時，聲束中心線必然與入射 點(diǎn)和圓心之間的連線相重合，即聲束中心線垂直于孔表面。這時，試塊上 與入射點(diǎn)相應(yīng)的角度線所標(biāo)的值即為該斜探頭的 K 值。

將探傷儀的抑制和補(bǔ)償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中 A 或 B 位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。

調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度，此時必須有 30 分貝的 衰減量。然后每衰減 2 分貝用百分率讀出反射波高度，直到 26 分貝，在 判斷 30 分貝時反射波是否存在，將結(jié)果記錄表中。評定垂直線性時，以反 射波高度的理想波高為基準(zhǔn)，以測試值與基準(zhǔn)值的最大正偏差(+d)及最 大負(fù)偏差(-d)之和來判定垂直線性。

D=[|+d|+|-d|]×%

盲區(qū)是指最小的探測距離，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。

將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于最大， 測試試塊中有機(jī)玻璃塊反射波次數(shù)和最后一次反射波高度。以此來估計最 大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。

根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為 25/100mm 的幾個側(cè)面 視為大平底處理，以此來調(diào)整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm 橫通孔反射波來確定靈敏度。

在 CSK-IA 試塊上厚 25mm 的平面上，使聲束指向棱邊，對于 K 值小于等于 1 的探頭，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K 值大于 1 的聲束指 向下棱角，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度最高，固定探頭 不動，然后用量角器或適當(dāng)?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法 線的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角)，即為聲束軸線 偏斜角。應(yīng)當(dāng)注意:斜探頭的聲束擴(kuò)散角較大時，可能影響到最大回波的 探測，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。

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