便攜相控陣試塊具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和官孔以模擬缺陷，可用來(lái)校準(zhǔn)相控陣超聲探傷儀扇掃成像橫向（縱向）分辨力、短缺陷分辨力、扇掃角度分辨力等。按照不同功能分 為A型便攜式相控陣試塊和B型便攜式相控陣試塊，具體結(jié)構(gòu)及參數(shù)如下。

A型便攜式相控陣試塊

B型便攜式相控陣試塊

超聲相控陣B型試塊是一種具有特定結(jié)構(gòu)和缺陷的試塊，用于超聲相控陣檢測(cè)系統(tǒng)中，以模擬實(shí)際工件中的缺陷情況，從而校準(zhǔn)檢測(cè)設(shè)備的性能、驗(yàn)證檢測(cè)工藝的有效性，并評(píng)估檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。

功能作用

主要用于測(cè)試成像橫向和縱向幾何尺寸測(cè)量誤差、扇掃角度范圍誤差和扇掃角度分辨力。

類(lèi)型

根據(jù)用途和標(biāo)準(zhǔn)不同，可分為校準(zhǔn)試塊、對(duì)比試塊和模擬試塊等。具體如下：

• 校準(zhǔn)試塊：通常具有一系列不同位置、不同角度、不同尺寸的規(guī)則通孔和盲孔，用于校準(zhǔn)超聲相控陣檢測(cè)設(shè)備的聲速、楔塊延時(shí)、ACG、TCG等參數(shù)。

• 對(duì)比試塊（參考試塊）：具有與待檢測(cè)工件相似的結(jié)構(gòu)和材料特性，并包含一系列已知的缺陷，用于與待檢測(cè)工件進(jìn)行對(duì)比，評(píng)估檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

• 模擬試塊（演示試塊）：用于模擬實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中的復(fù)雜情況，如焊縫坡口成像、焊接自然缺欠等，以驗(yàn)證檢測(cè)工藝的有效性和評(píng)估檢測(cè)人員的技能水平。

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

一般來(lái)說(shuō)，B型試塊上有不同區(qū)域，如B-1區(qū)、B-2區(qū)、B-3區(qū)等，每個(gè)區(qū)域有不同的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，例如B-1區(qū)有一系列通孔用于測(cè)量成像橫向幾何尺寸測(cè)量誤差等。

應(yīng)用領(lǐng)域

在無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用，特別是在核工業(yè)、航空工業(yè)等對(duì)檢測(cè)精度和可靠性要求較高的領(lǐng)域。

相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)

通常遵循國(guó)際或國(guó)內(nèi)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，如ISO2400、ISO19675、GB/T32563以及ASME、ASTM E2491-08等標(biāo)準(zhǔn)。

使用方法

• 成像橫向幾何尺寸測(cè)量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔的左端面及B-2區(qū)一系列通孔的下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實(shí)現(xiàn)線(xiàn)性?huà)卟榛蛏刃螔卟榈玫角逦鷪D像，測(cè)量不同孔圖像之間的橫向距離測(cè)量值，計(jì)算與標(biāo)稱(chēng)值的差值。

• 成像縱向幾何尺寸測(cè)量誤差：將探頭放置在試塊B中B-1區(qū)一系列通孔下端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實(shí)現(xiàn)線(xiàn)性?huà)卟榛蛏刃螔卟榈玫角逦鷪D像，測(cè)量不同孔圖像之間的縱向距離測(cè)量值，計(jì)算與標(biāo)稱(chēng)值的差值。

• 扇掃角度范圍測(cè)量誤差：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列通孔的上端面，設(shè)定不同的扇形掃查角度范圍，調(diào)節(jié)設(shè)備實(shí)現(xiàn)扇形掃查得到清晰的圖像，數(shù)出缺陷圖像的數(shù)目并計(jì)算實(shí)際掃查角度。

• 扇掃角度分辨力：將探頭放置在試塊B中B-3區(qū)一系列的上端面，調(diào)節(jié)設(shè)備實(shí)現(xiàn)扇形掃查，圖像中所能分開(kāi)的最小角度間距即為該工作狀態(tài)下的扇掃角度分辨力。