CSK-IVA試塊依據(jù)NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn) 承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì)，適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為200mm～500mm的Ⅰ型焊接接頭。

CSK - IVA試塊是一種用于超聲檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)試塊，滿足NB/T 47013 - 2015《承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)》標(biāo)準(zhǔn)。具體信息如下：

• 設(shè)計(jì)依據(jù)與適用范圍：依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求設(shè)計(jì)，適用于斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為200mm - 500mm的I型焊接接頭。

• 試塊規(guī)格：

• **CSK - IVA - 1#**：適用于工件厚度＞200 - 300mm，試塊尺寸770mm×80mm×310mm。

• **CSK - IVA - 2#**：適用于工件厚度＞300 - 400mm，試塊尺寸970mm×100mm×410mm。

• **CSK - IVA - 3#**：適用于工件厚度＞400 - 500mm，試塊尺寸1170mm×120mm×510mm。

• 作用：

• 確定檢測(cè)靈敏度，為超聲檢測(cè)提供統(tǒng)一的靈敏度標(biāo)準(zhǔn)，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可比性。

• 測(cè)試儀器和探頭的性能，如儀器的分辨率、探頭的靈敏度、波束指向性等，幫助判斷儀器和探頭是否滿足檢測(cè)要求。

• 調(diào)整掃描速度，使超聲檢測(cè)儀器的掃描速度與被檢測(cè)工件的厚度和材料特性相匹配，以便準(zhǔn)確測(cè)量缺陷的位置和大小。

• 評(píng)判缺陷大小，通過(guò)將檢測(cè)到的缺陷回波與試塊上已知尺寸的反射體回波進(jìn)行對(duì)比，對(duì)工件中缺陷的大小進(jìn)行評(píng)估。

測(cè)試方法：（1）橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第一點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。依次類推，依據(jù)檢測(cè)工件厚度確定試塊測(cè)試深度，將以上各點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。

（2）縱波靈敏度設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中e位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第一點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中g(shù)位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中h位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ6mm橫通孔上得到最大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。依次類推，依據(jù)被檢工件厚度確定測(cè)試試塊深度。將以上所有各點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線，此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。